【題目】動圓與相外切,與相內(nèi)切.
(1)求動圓圓心的軌跡的方程;
(2)是動圓的半徑最小時的圓,傾斜角為且過點的直線l與相切,與軌跡交于,兩點,求的值.
【答案】(1)(2)
【解析】
(1)根據(jù)動圓與 外切,與內(nèi)切,由橢圓定義可知,點的軌跡是以、為焦點的橢圓;
(2)由(1)知:要使半徑最小,則最小,易知,
則可設(shè)直線方程為,根據(jù)直線與圓相切求出參數(shù)的值,即可得到直線方程,最后聯(lián)立直線與橢圓方程,利用弦長公式計算可得.
解:(1)設(shè)動圓的半徑為,則由題可知:,
∴,
由橢圓定義可知點的軌跡是以,為焦點,
長軸為6的橢圓,,
,,
的軌跡方程為:
(2)由(1)知:要使半徑最小,
則最小,易知
由于,,圓的方程為:
又由題可得直線的方程為:,即
到直線的距離為:,或(舍去)
∴直線的方程為:,聯(lián)立橢圓方程:消去整理得:
,設(shè),
則,,
∴.
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【題目】【選修4-4,坐標(biāo)系與參數(shù)方程】
在直角坐標(biāo)系中,直線的參數(shù)方程為(t為參數(shù)),在以O為極點,軸正半軸為極軸的極坐標(biāo)系中,曲線C的極坐標(biāo)方程為
(Ⅰ)求直線的普通方程與曲線C的直角坐標(biāo)方程;
(Ⅱ)若直線與軸的交點為P,直線與曲線C的交點為A,B,求的值.
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【題目】設(shè)數(shù)列的前項和為,對一切,點都在函數(shù)的圖象上.
(1)求,歸納數(shù)列的通項公式(不必證明).
(2)將數(shù)列依次按1項、2項、3項、4項循環(huán)地分為,,,;,,,;,…,分別計算各個括號內(nèi)各數(shù)之和,設(shè)由這些和按原來括號的前后順序構(gòu)成的數(shù)列為,求的值.
(3)設(shè)為數(shù)列的前項積,且,求數(shù)列的最大項.
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【題目】【選修4-4,坐標(biāo)系與參數(shù)方程】
在直角坐標(biāo)系中,直線的參數(shù)方程為(t為參數(shù)),在以O為極點,軸正半軸為極軸的極坐標(biāo)系中,曲線C的極坐標(biāo)方程為
(Ⅰ)求直線的普通方程與曲線C的直角坐標(biāo)方程;
(Ⅱ)若直線與軸的交點為P,直線與曲線C的交點為A,B,求的值.
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【題目】在平面直角坐標(biāo)系xOy中,已知橢圓C的方程為,設(shè)AB是過橢圓C中心O的任意弦,l是線段AB的垂直平分線,M是l上與O不重合的點.
(1)求以橢圓的焦點為頂點,頂點為焦點的雙曲線方程;
(2)若,當(dāng)點A在橢圓C上運動時,求點M的軌跡方程;
(3)記M是l與橢圓C的交點,若直線AB的方程為,當(dāng)面積取最小值時,求直線AB的方程;
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【題目】已知橢圓的離心率,且橢圓過點
(1)求橢圓的標(biāo)準(zhǔn)方程;
(2)設(shè)直線與交于、兩點,點在橢圓上,是坐標(biāo)原點,若,判定四邊形的面積是否為定值?若為定值,求出該定值;如果不是,請說明理由.
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【題目】已知為實數(shù),用表示不超過的最大整數(shù),例如,,.對于函數(shù),若存在且,使得,則稱函數(shù)是“和諧”函數(shù).
(1)判斷函數(shù),是否是“和諧”函數(shù);(只需寫出結(jié)論)
(2)設(shè)函數(shù)是定義在上的周期函數(shù),其最小周期為,若不是“和諧”函數(shù),求的最小值.
(3)若函數(shù)是“和諧”函數(shù),求的取值范圍.
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【題目】某芯片公司對今年新開發(fā)的一批5G手機(jī)芯片進(jìn)行測評,該公司隨機(jī)調(diào)查了100顆芯片,并將所得統(tǒng)計數(shù)據(jù)分為五個小組(所調(diào)查的芯片得分均在內(nèi)),得到如圖所示的頻率分布直方圖,其中.
(1)求這100顆芯片評測分?jǐn)?shù)的平均數(shù)(同一組中的每個數(shù)據(jù)可用該組區(qū)間的中點值代替).
(2)芯片公司另選100顆芯片交付給某手機(jī)公司進(jìn)行測試,該手機(jī)公司將每顆芯片分別裝在3個工程手機(jī)中進(jìn)行初測。若3個工程手機(jī)的評分都達(dá)到11萬分,則認(rèn)定該芯片合格;若3個工程手機(jī)中只要有2個評分沒達(dá)到11萬分,則認(rèn)定該芯片不合格;若3個工程手機(jī)中僅1個評分沒有達(dá)到11萬分,則將該芯片再分別置于另外2個工程手機(jī)中進(jìn)行二測,二測時,2個工程手機(jī)的評分都達(dá)到11萬分,則認(rèn)定該芯片合格;2個工程手機(jī)中只要有1個評分沒達(dá)到11萬分,手機(jī)公司將認(rèn)定該芯片不合格.已知每顆芯片在各次置于工程手機(jī)中的得分相互獨立,并且芯片公司對芯片的評分方法及標(biāo)準(zhǔn)與手機(jī)公司對芯片的評分方法及標(biāo)準(zhǔn)都一致(以頻率作為概率).每顆芯片置于一個工程手機(jī)中的測試費用均為300元,每顆芯片若被認(rèn)定為合格或不合格,將不再進(jìn)行后續(xù)測試,現(xiàn)手機(jī)公司測試部門預(yù)算的測試經(jīng)費為10萬元,試問預(yù)算經(jīng)費是否足夠測試完這100顆芯片?請說明理由.
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