Question

4．在進(jìn)行實(shí)驗(yàn)探究時(shí)，為了減小誤差或?qū)ふ移毡橐?guī)律，經(jīng)常進(jìn)行反復(fù)多次實(shí)驗(yàn)．下列實(shí)驗(yàn)中為了減小誤差提高精度的是（　�。�

• A． 在探究“光的反射規(guī)律”時(shí)，改變?nèi)肷浣堑亩葦?shù)，多次測(cè)量
• B． 在探究“滑動(dòng)摩擦力的大小跟壓力的大小關(guān)系”時(shí)，改變壓力的大小，多次測(cè)量
• C． 在測(cè)量“某物質(zhì)的密度”時(shí)，測(cè)量多組對(duì)應(yīng)的質(zhì)量和體積值
• D． 在探究“平面鏡成像的特點(diǎn)”時(shí)，改變物體的位置，多次測(cè)量

Answer 1

分析 測(cè)量性實(shí)驗(yàn)為了減小誤差或者尋找規(guī)律進(jìn)行多次測(cè)量，如果物理量是個(gè)恒量，多次測(cè)量求平均值可以減小實(shí)驗(yàn)誤差；如果不是測(cè)量具體的物理量，而是尋找規(guī)律也采取多次測(cè)量，尋找普遍性．

解答 解：A、“探究光的反射定律”時(shí)，多次改變?nèi)肷浣堑亩葦?shù)，是為了探究反射光線與入射光線、反射角與入射角的對(duì)應(yīng)關(guān)系，總結(jié)出光的反射定律．不符合題意；
B、在探究“滑動(dòng)摩擦力的大小跟壓力的大小關(guān)系”時(shí)，改變壓力的大小，多次測(cè)量是為了總結(jié)普遍規(guī)律，不符合題意．
C、在測(cè)量“某物質(zhì)的密度”時(shí)，測(cè)量多組對(duì)應(yīng)的質(zhì)量和體積值，為了減小誤差，采取多次測(cè)量求平均值的方法．符合題意；
D、探究平面鏡成像特點(diǎn)“時(shí)，要多次改變物體到鏡面的距離，目的是總結(jié)平面鏡成像的規(guī)律．不符合題意．
故選C．

點(diǎn)評(píng) 本題考查學(xué)對(duì)各個(gè)實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)康氖欠袂宄�，要求學(xué)學(xué)生對(duì)實(shí)驗(yàn)要非常熟悉，明確實(shí)驗(yàn)中每一步實(shí)驗(yàn)的目的．