得 分評(píng)卷人 題中橫線上) 查看更多

 

題目列表(包括答案和解析)

有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.

請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上);
(1)兩次測(cè)試最低分在第
次測(cè)試中;
(2)第
次測(cè)試較容易.

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19、有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況(如圖).
請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上)
(1)兩次測(cè)試最低分在第
次測(cè)試中;
(2)第
次測(cè)試較容易;

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26、有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.
請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上):
(1)兩次測(cè)試最低分在第
次測(cè)試中;
(2)第
次測(cè)試成績(jī)較好;
(3)第一次測(cè)試中,中位數(shù)在
分?jǐn)?shù)段,第二次測(cè)試中,中位數(shù)在
分?jǐn)?shù)段.

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有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.

請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上);

(1)兩次測(cè)試最低分在第            次測(cè)試中;

(2)第           次測(cè)試較容易;

(3)第一次測(cè)試中,中位數(shù)在               分?jǐn)?shù)段,第二次測(cè)試中,中位數(shù)在               分?jǐn)?shù)段.

 

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有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試,條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況.

請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息,回答下列問(wèn)題(把答案填在題中橫線上);
(1)兩次測(cè)試最低分在第           次測(cè)試中;
(2)第          次測(cè)試較容易;
(3)第一次測(cè)試中,中位數(shù)在              分?jǐn)?shù)段,第二次測(cè)試中,中位數(shù)在              分?jǐn)?shù)段.

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