利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是(     ).

A.N的上表面A處向上凸起
B.N的上表面B處向上凸起
C.條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同
D.條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

BC

解析試題分析:當(dāng)光線垂直入射時,被薄膜上下表面反射的光線的光程差為2ne, 其中2n是常量,厚度e相同的地方,位相差相同,所以C正確;達到相應(yīng)的厚度,才能得到相應(yīng)級次的條紋,條紋向左邊凸起,表明由于工件凹陷,導(dǎo)致厚度大于空氣膜的正常厚度,反之亦然,所以B正確。故選BC
考點:考查了薄膜干涉的應(yīng)用
點評:關(guān)鍵是理解薄膜干涉的原理,

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科目:高中物理 來源: 題型:

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是( 。

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科目:高中物理 來源: 題型:

精英家教網(wǎng)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是( 。
A、N的上表面A處向上凸起B、N的上表面B處向上凸起C、條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同D、條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

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利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處PQ對應(yīng)于AB處,下列判斷中正確的是

A.N的上表面A處向上凸起

B.N的上表面B處向上凸起

C.

條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

D.

條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

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科目:高中物理 來源:2014屆新疆烏魯木齊市高二下學(xué)期期中考試物理理科(特長班)試卷(解析版) 題型:選擇題

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是(     ).

A.N的上表面A處向上凸起

B.N的上表面B處向上凸起

C.條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

D.條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

 

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