利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處,下列判斷中正確的是( ).
A.N的上表面A處向上凸起
B.N的上表面B處向上凸起
C.條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同
D.條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同
科目:高中物理 來源: 題型:
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A、N的上表面A處向上凸起 | B、N的上表面B處向上凸起 | C、條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同 | D、條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同 |
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科目:高中物理 來源:新五星級題庫高中物理 題型:021
利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖
(a)所示,現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處,下列判斷中正確的是A.N的上表面A處向上凸起
B.N的上表面B處向上凸起
條紋的
cd點對應處的薄膜厚度相同條紋的
d、e點對應處的薄膜厚度相同查看答案和解析>>
科目:高中物理 來源:2012-2013學年新疆烏魯木齊市一中高二下學期期中考試物理理科(特長班)試卷(帶解析) 題型:單選題
利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處,下列判斷中正確的是( ).
A.N的上表面A處向上凸起 |
B.N的上表面B處向上凸起 |
C.條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同 |
D.條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同 |
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