質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具，它的構(gòu)造原理如圖所示，離子源S產(chǎn)生的各 種不同正離子束（速度可看作為零），經(jīng)加速電場加速后垂直進入有界勻強磁場，到達記錄它的照相底 片P上，設離子射出磁場在P上的位置到入口處S₁的距離為x，下列判斷正確的是

圖是質(zhì)譜儀的工作原理示意圖。帶電粒子被加速電場加速后，進入速度選擇器速度選擇器內(nèi)相互正交的勻強磁場和勻強電場的強度分別為B和E平板S上有可讓粒子通過的狹縫P和記錄粒子位置的膠片A₁A₂，平板S下方有強度為B₀的勻強磁場。下列表述正確的是

如圖所示為質(zhì)譜儀原理的示意圖。利用這種質(zhì)譜議對氫的各種同位素的原子核進行測量，讓氫核從容器A下方的小孔S處無初速度地飄入電勢差為U的加速電場。加速后垂直進入磁感應強度為B的勻強磁場中。氫的三種同位素的原子核最后打在照相底片D上，形成a、b、c三條“質(zhì)譜線”，關(guān)于三種同位素的原子核進入磁場時速度的排列順序和a、b、c三條“質(zhì)譜線”的排列順序，下列判斷正確的是

如圖所示為一種質(zhì)譜儀示意圖，由加速電場、靜電分析器和磁分析器組成。已知：靜電分析器通道的半徑為R，均勻輻射電場的場強為E。磁分析器中有垂直紙面向外的勻強磁場，磁感強度為B。問：
（1）為了使位于A處電量為q、質(zhì)量為m的離子，從靜止開始經(jīng)加速電場加速后沿圖中圓弧虛線通過靜電分析器，加速電場的電壓U應為多大？
（2）離子由P點進入磁分析器后，最終打在乳膠片上的Q點，該點距入射點P多遠？

如圖所示為某種質(zhì)譜儀的結(jié)構(gòu)示意圖。其中加速電場的電壓為U，靜電分析器中與圓心O₁等距各點的電場強度大小相同，方向沿徑向指向圓心O₁。磁分析器中以O₂為圓心、圓心角為90°的扇形區(qū)域內(nèi)，分布著方向垂直于紙面的勻強磁場，其左邊界與靜電分析器的右邊界平行。由離子源發(fā)出一個質(zhì)量為m、電荷量為q的正離子（初速度為零，重力不計），經(jīng)加速電場加速后，從M點沿垂直于該點的場強方向進入靜電分析器，在靜電分析器中，離子沿半徑為R的四分之一圓弧軌道做勻速圓周運動，并從N點射出靜電分析器。而后離子由P點沿著既垂直于磁分析器的左邊界，又垂直于磁場方向射入磁分析器中，最后離子沿垂直于磁分析器下邊界的方向從Q點射出，并進入收集器。測量出Q點與圓心O₂的距離為d。
（1）求靜電分析器中離子運動軌跡處電場強度E的大��；
（2）求磁分析器中磁場的磁感應強度B的大小和方向；
（3）通過分析和必要的數(shù)學推導，請你說明如果離子的質(zhì)量為0.9m，電荷量仍為q，其他條件不變，這個離子射出電場和射出磁場的位置是否變化。

如圖是質(zhì)譜儀的工作原理示意圖。帶電粒子被加速電場加速后，進入速度選擇器。速度選擇器內(nèi)相互正交的勻強磁場和勻強電場的強度分別為B和E。平板S上有可讓粒子通過的狹縫P和記錄粒子位置的膠片A₁A₂。平板S下方有強度為B₀的勻強磁場。下列表述不正確的是

質(zhì)譜儀的工作原理圖如圖所示，A為粒子加速器，加速電壓為U₁；M為速度選擇器，兩板間有相互垂直的勻強磁場和勻強電場，勻強磁場的磁感應強度為B₁，兩板間距離為d；N為偏轉(zhuǎn)分離器，內(nèi)部有與紙面垂直的勻強磁場，磁感應強度為B₂，一質(zhì)量為m，電荷量為q的帶正電的粒子由靜止經(jīng)加速器加速后，恰能通過速度選擇器，進入分離器后做圓周運動，并打到感光板P上。不計粒子重力。求：
（1）粒子經(jīng)粒子加速器A加速后的速度v的大小及速度選擇器M兩板間的電壓U₂；
（2）粒子在偏轉(zhuǎn)分離器N的磁場中做圓周運動的半徑R；
（3）某同學提出：在其他條件不變的情況下，只減小加速電壓U₁，就可以使粒子在偏轉(zhuǎn)分離器N的磁場中做圓周運動的半徑減小，試分析他的說法是否正確。

如圖所示是質(zhì)譜儀的示意圖，它可以測定單個離子的質(zhì)量，圖中離子源。s產(chǎn)生帶電荷量為q的離子，經(jīng)電壓為U的電場加速后垂直射入磁感應強度為B的勻強磁場中，沿半圓軌道運動到記錄它的照片底片P上，測得它在P上位置與A處相距為d，求該離子的質(zhì)量m。

下圖是質(zhì)譜儀的工作原理示意圖，帶電粒子被加速電場加速后，進入速度選擇器，速度選擇器內(nèi)相互正交的勻強磁場和勻強電場的強度分別為B和E。平板S上有可讓粒子通過的狹縫P和記錄粒子位置的膠片A₁A₂。平板S下方有強度為B₀的勻強磁場，下列表述正確的是

質(zhì)譜分析技術(shù)已廣泛應用于各前沿科學領(lǐng)域。湯姆孫發(fā)現(xiàn)電子的質(zhì)譜裝置示意如圖，M、N為兩塊水平放置的平行金屬極板，板長為L，板右端到屏的距離為D，且D遠大于L，O'O為垂直于屏的中心軸線，不計離子重力和離子在板間偏離O'O的距離，以屏中心O為原點建立xOy直角坐標系，其中x軸沿水平方向，y軸沿豎直方向。
(1)設一個質(zhì)量為m₀、電荷量為q₀的正離子以速度v₀沿O'O的方向從O'點射入，板間不加電場和磁場時，離子打在屏上O點。若在兩極板間加一沿+y方向場強為E的勻強電場，求離子射到屏上時偏離O點的距離y₀；
(2)假設你利用該裝置探究未知離子，試依照以下實驗結(jié)果計算未知離子的質(zhì)量數(shù)。
上述裝置中，保留原電場，再在板間加沿-y方向的勻強磁場�，F(xiàn)有電荷量相同的兩種正離子組成的離子流，仍從O'點沿O'O方向射入，屏上出現(xiàn)兩條亮線，在兩線上取y坐標相同的兩個光點，對應的x坐標分別為3.24 mm和3.00 mm，其中x坐標大的光點是碳12離子擊中屏產(chǎn)生的，另一光點是未知離子產(chǎn)生的。盡管入射離子速度不完全相同，但入射速度都很大，且在板間運動時O'O方向的分速度總是遠大于x方向和y方向的分速度。