右圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖,其中S1、S2為雙縫,D為光屏。實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心,P1為第一級(jí)亮紋的中心。在其它條件不變的情況下,若將D屏向右平移一段距離,則        
A、屏上O點(diǎn)仍然為中央亮條紋
B、屏上P1位置仍然可能為亮條紋的中心
C、屏上P1位置可能為暗條紋中心
D、屏上干涉條紋間距將變小
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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:

右圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖,其中S1、S2為雙縫,D為光屏,實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心,P1為第一級(jí)亮紋的中心,若將雙縫間的距離變小,其他條件不變,則(  )

A.屏上干涉條紋的間距將變小

B.屏上O點(diǎn)仍然為中央亮紋的中心

C.屏上P1位置仍然可能為亮紋的中心

D.屏上P1位置可能為暗紋的中心

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如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖,其中S1、S2為雙縫,D為光屏,實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心,P1為第一級(jí)亮紋的中心,若將雙縫間的距離變小,其他條件不變,則下列說(shuō)法正確的是

A.屏上的干涉條紋的間距將變大
B.屏上的O點(diǎn)可能出現(xiàn)暗條紋
C.屏上P1位置仍然可能為亮條紋的中心
D.屏上P1位置可能為暗條紋的中心

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如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖,其中S1、S2為雙縫,D為光屏,實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心,P1為第一級(jí)亮紋的中心,若將雙縫間的距離變小,其他條件不變,則下列說(shuō)法正確的是

A.屏上的干涉條紋的間距將變大

B.屏上的O點(diǎn)可能出現(xiàn)暗條紋

C.屏上P1位置仍然可能為亮條紋的中心

D.屏上P1位置可能為暗條紋的中心

 

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 (2011年杭州一模)如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖,其中S1、S2為雙縫,D為光屏,實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心,P1為第一級(jí)亮紋的中心,若將雙縫間的距離變小,其他條件不變,則(  )

 

A.屏上的干涉條紋的間距將變大

B.屏上的O點(diǎn)可能出現(xiàn)暗條紋

C.屏上P1位置仍然可能為亮條紋的中心

D.屏上P1位置可能為暗條紋的中心

 

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