如圖所示裝置可用來(lái)分析氣體原子的組成.首先使待研究氣體進(jìn)入電離室A,在此氣體被電離成等離子體(待研究氣體的等離子體由含有一價(jià)正離子和電荷量為e的電子組成,整體顯電性).這些等離子體(統(tǒng)稱(chēng)“帶電粒子”)從電離室下端狹縫S1飄出(忽略飄出的速度),經(jīng)兩極板間電壓為U的加速電場(chǎng)后(忽略這些帶電粒子被加速的時(shí)間),從狹縫S2沿垂直磁場(chǎng)方向進(jìn)入磁感應(yīng)強(qiáng)度為B的有界勻強(qiáng)磁場(chǎng),在磁場(chǎng)的上、下邊界處分別裝有水平底片E和F.當(dāng)雙刀雙擲開(kāi)關(guān)分別擲向1、2和3、4時(shí),發(fā)現(xiàn)從電離室狹縫S1飄出的帶電粒子分別打在E和F上的P、Q點(diǎn).已知狹縫S2與水平底片E上P點(diǎn)之間的距離d1=2.0cm,到水平底片F(xiàn)上Q點(diǎn)的水平距離d2=6.4cm,磁場(chǎng)區(qū)域?qū)挾萪=30cm.空氣阻力、帶電粒子所受重力以及帶電粒子之間的相互作用均可忽略不計(jì).
(1)試分析打在P點(diǎn)的帶電粒子的帶電性質(zhì),并寫(xiě)出該帶電粒子質(zhì)量的表達(dá)式;(要求用題中的字母表示)
(2)試確定打在Q點(diǎn)的帶電粒子的質(zhì)量和打在P點(diǎn)的帶電粒子的質(zhì)量之比;(結(jié)果保留兩位有效數(shù)字)
(3)若P點(diǎn)是底片E上刻度尺的右端點(diǎn),而實(shí)驗(yàn)中帶電粒子總是打到P點(diǎn)右側(cè),從而導(dǎo)致不便于測(cè)量帶電粒子擊中底片位置到狹縫S2的距離,應(yīng)如何調(diào)整可使帶電粒子能打在P點(diǎn)左側(cè)的位置.

【答案】分析:帶電粒子電場(chǎng)中做加速運(yùn)動(dòng),動(dòng)能的增加量等于電場(chǎng)力對(duì)粒子做的功;進(jìn)入磁場(chǎng)后,洛侖茲力提供向心力,得到半徑的表達(dá)式;根據(jù)圖象中的幾何關(guān)系,求出粒子的半徑的大小,聯(lián)立公式即可求出結(jié)果.
解答:解:帶電粒子電場(chǎng)中做加速運(yùn)動(dòng),動(dòng)能的增加量等于電場(chǎng)力對(duì)粒子做的功:
進(jìn)入磁場(chǎng)后,洛侖茲力提供向心力:
得:   ①
聯(lián)立以上3個(gè)公式,整理得:   ②
(1)打在P點(diǎn)的粒子向右偏轉(zhuǎn),根據(jù)左手定則可以判定出,粒子帶負(fù)電荷;同時(shí)還可以知道,粒子運(yùn)動(dòng)的軌跡是個(gè)半圓,所以:2r1=d1
將上式帶入②,得到:
(2)設(shè)打在Q點(diǎn)的粒子的半徑是r2,則根據(jù)幾何關(guān)系得:,
帶入數(shù)據(jù),求得:r2=73.5cm
所以:
(3)要使帶電粒子能打在P點(diǎn)左側(cè)的位置,可以才用的方法就是減小粒子的運(yùn)動(dòng)半徑.根據(jù)①可知,減小半徑的方法有兩種:一是增大磁場(chǎng)的強(qiáng)度,一是減小粒子進(jìn)入磁場(chǎng)時(shí)的速度,即減小加速電場(chǎng)的電壓U.
答:(1)在P點(diǎn)的帶電粒子的帶負(fù)電,該帶電粒子質(zhì)量的表達(dá)式;
(2)打在Q點(diǎn)的帶電粒子的質(zhì)量和打在P點(diǎn)的帶電粒子的質(zhì)量之比1.9×10-4
(3)增大磁場(chǎng)的強(qiáng)度或者減小加速電場(chǎng)的電壓U可使帶電粒子能打在P點(diǎn)左側(cè)的位置.
點(diǎn)評(píng):該題考查帶電粒子在勻強(qiáng)磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng),解題的關(guān)鍵是正確推導(dǎo)出半徑的表達(dá)公式,和根據(jù)幾何關(guān)系正確找出半徑的大小.該題屬于中檔偏難的題目.
練習(xí)冊(cè)系列答案
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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:閱讀理解

(25分)圖1所示為楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)的示意圖,取紙面為yz平面。y、z軸的方向如圖所示。線(xiàn)光源S通過(guò)z軸,雙縫S1、S2對(duì)稱(chēng)分布在z軸兩側(cè),它們以及屏P都垂直于紙面。雙縫間的距離為d,光源S到雙縫的距離為l,雙縫到屏的距離為D,,

  1.從z軸上的線(xiàn)光源S出發(fā)經(jīng)S1、S2不同路徑到P0點(diǎn)的光程差為零,相干的結(jié)果產(chǎn)生一亮紋,稱(chēng)為零級(jí)亮紋。為了研究有一定寬度的擴(kuò)展光源對(duì)于干涉條紋清晰度的影響,我們先研究位于軸外的線(xiàn)光源S′形成的另一套干涉條紋,S′位于垂直于z軸的方向上且與S平行,兩者相距,則由線(xiàn)光源S′出發(fā)分別經(jīng)S1、S2產(chǎn)生的零級(jí)亮紋與P0的距離

  2.當(dāng)光源寬度為的擴(kuò)展光源時(shí),可將擴(kuò)展光源看作由一系列連續(xù)的、彼此獨(dú)立的、非相干的線(xiàn)光源組成。這樣,各線(xiàn)光源對(duì)應(yīng)的干涉條紋將彼此錯(cuò)開(kāi),在屏上看到的將是這些干涉條紋的光強(qiáng)相加的結(jié)果,干涉條紋圖像將趨于模糊,條紋的清晰度下降。假設(shè)擴(kuò)展光源各處發(fā)出的光強(qiáng)相同、波長(zhǎng)皆為。當(dāng)增大導(dǎo)致零級(jí)亮紋的亮暗將完全不可分辨,則此時(shí)光源的寬度

  3.在天文觀(guān)測(cè)中,可用上述干涉原理來(lái)測(cè)量星體的微小角直徑。遙遠(yuǎn)星體上每一點(diǎn)發(fā)出的光到達(dá)地球處都可視為平行光,從星體相對(duì)的兩邊緣點(diǎn)發(fā)來(lái)的兩組平行光之間的夾角就是星體的角直徑。遙遠(yuǎn)星體的角直徑很小,為測(cè)量如些微小的角直徑,邁克爾遜設(shè)計(jì)了測(cè)量干涉儀,其裝置簡(jiǎn)化為圖2所示。M1、M2、M3、M4是四個(gè)平面反射鏡,它們兩兩平行,對(duì)稱(chēng)放置,與入射光(a、 a′)方向成45°角。S1和S2是一對(duì)小孔,它們之間的距離是d。M1和M2可以同步對(duì)稱(chēng)調(diào)節(jié)來(lái)改變其中心間的距離h。雙孔屏到觀(guān)察屏之間的距離是D。a、 a′和b、 b′分別是從星體上相對(duì)著的兩邊緣點(diǎn)發(fā)來(lái)的平行光束。設(shè)光線(xiàn)a、 a′垂直雙孔屏和像屏,星光的波長(zhǎng)是,試導(dǎo)出星體上角直徑的計(jì)算式。

注:將星體作圓形擴(kuò)展光源處理時(shí),研究擴(kuò)展光源的線(xiàn)度對(duì)于干涉條紋圖像清晰度的影響會(huì)遇到數(shù)學(xué)困難,為簡(jiǎn)化討論,本題擬將擴(kuò)展光源作寬度為的矩形光源處理。

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科目:高中物理 來(lái)源:2013-2014學(xué)年江西省紅色六校高三第二次聯(lián)考理科綜合物理試卷(解析版) 題型:填空題

6分)如圖所示裝置可用來(lái)驗(yàn)證機(jī)械能守恒,直徑為d的擺球A拴在長(zhǎng)為L的不可伸長(zhǎng)的輕繩一端(L>>d),繩的另一端固定在O點(diǎn),O點(diǎn)正下方擺球重心經(jīng)過(guò)的位置固定光電門(mén)B。現(xiàn)將擺球拉起,使繩偏離豎直方向成θ角時(shí)由靜止開(kāi)始釋放擺球,當(dāng)其到達(dá)最低位置時(shí),光電門(mén)B記錄的遮光時(shí)間為t

如圖為50分度游標(biāo)卡尺測(cè)量擺球A的直徑d=???????????? mm。

擺球到達(dá)最低點(diǎn)的速度V= ????????? (用題中字母表示)。

寫(xiě)出滿(mǎn)足機(jī)械能守恒的表達(dá)式?????????????? (用題中字母表示)。

 

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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:閱讀理解

(25分)圖1所示為楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)的示意圖,取紙面為yz平面。y、z軸的方向如圖所示。線(xiàn)光源S通過(guò)z軸,雙縫S1、S2對(duì)稱(chēng)分布在z軸兩側(cè),它們以及屏P都垂直于紙面。雙縫間的距離為d,光源S到雙縫的距離為l,雙縫到屏的距離為D,,

  1.從z軸上的線(xiàn)光源S出發(fā)經(jīng)S1、S2不同路徑到P0點(diǎn)的光程差為零,相干的結(jié)果產(chǎn)生一亮紋,稱(chēng)為零級(jí)亮紋。為了研究有一定寬度的擴(kuò)展光源對(duì)于干涉條紋清晰度的影響,我們先研究位于軸外的線(xiàn)光源S′形成的另一套干涉條紋,S′位于垂直于z軸的方向上且與S平行,兩者相距,則由線(xiàn)光源S′出發(fā)分別經(jīng)S1、S2產(chǎn)生的零級(jí)亮紋,與P0的距離

  2.當(dāng)光源寬度為的擴(kuò)展光源時(shí),可將擴(kuò)展光源看作由一系列連續(xù)的、彼此獨(dú)立的、非相干的線(xiàn)光源組成。這樣,各線(xiàn)光源對(duì)應(yīng)的干涉條紋將彼此錯(cuò)開(kāi),在屏上看到的將是這些干涉條紋的光強(qiáng)相加的結(jié)果,干涉條紋圖像將趨于模糊,條紋的清晰度下降。假設(shè)擴(kuò)展光源各處發(fā)出的光強(qiáng)相同、波長(zhǎng)皆為。當(dāng)增大導(dǎo)致零級(jí)亮紋的亮暗將完全不可分辨,則此時(shí)光源的寬度

  3.在天文觀(guān)測(cè)中,可用上述干涉原理來(lái)測(cè)量星體的微小角直徑。遙遠(yuǎn)星體上每一點(diǎn)發(fā)出的光到達(dá)地球處都可視為平行光,從星體相對(duì)的兩邊緣點(diǎn)發(fā)來(lái)的兩組平行光之間的夾角就是星體的角直徑。遙遠(yuǎn)星體的角直徑很小,為測(cè)量如些微小的角直徑,邁克爾遜設(shè)計(jì)了測(cè)量干涉儀,其裝置簡(jiǎn)化為圖2所示。M1、M2、M3、M4是四個(gè)平面反射鏡,它們兩兩平行,對(duì)稱(chēng)放置,與入射光(a、 a′)方向成45°角。S1和S2是一對(duì)小孔,它們之間的距離是d。M1和M2可以同步對(duì)稱(chēng)調(diào)節(jié)來(lái)改變其中心間的距離h。雙孔屏到觀(guān)察屏之間的距離是D。a、 a′和b、 b′分別是從星體上相對(duì)著的兩邊緣點(diǎn)發(fā)來(lái)的平行光束。設(shè)光線(xiàn)a、 a′垂直雙孔屏和像屏,星光的波長(zhǎng)是,試導(dǎo)出星體上角直徑的計(jì)算式。

注:將星體作圓形擴(kuò)展光源處理時(shí),研究擴(kuò)展光源的線(xiàn)度對(duì)于干涉條紋圖像清晰度的影響會(huì)遇到數(shù)學(xué)困難,為簡(jiǎn)化討論,本題擬將擴(kuò)展光源作寬度為的矩形光源處理。

圖1

圖2

  

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