【題目】已知數(shù)列{an}中,a11,an0,前n項(xiàng)和為Sn,若nN*,且n≥2).

1)求數(shù)列{an}的通項(xiàng)公式;

2)記,求數(shù)列{cn}的前n項(xiàng)和Tn

【答案】(1) an2n1;(2) Tn

【解析】

1)根據(jù)題意,有anSnSn1,結(jié)合分析可得1,則數(shù)列{}是以1為首項(xiàng),公差為1的等差數(shù)列,由等差數(shù)列的通項(xiàng)公式可得1+n1)=n,則Snn2,據(jù)此分析可得答案;

2)由(1)的結(jié)論可得cn=(2n1)×22n1;進(jìn)而可得Tn1×2+3×23+5×25+……+2n1)×22n1,由錯(cuò)位相減法分析可得答案.

(1)數(shù)列{an}中,anSnSn1,(nN*,且n≥2)①

,(nN*,且n≥2)②

÷②可得:1,

則數(shù)列{}是以1為首項(xiàng),公差為1的等差數(shù)列,

1+n1)=n,

Snn2

當(dāng)n1時(shí),a1S11,

當(dāng)n≥2時(shí),anSnSn12n1

a11也符合該式,

an2n1;

(2)有(1)的結(jié)論,an2n1,

cn=(2n1×22n1

Tn1×2+3×23+5×25+……+2n1×22n1,③;

4Tn1×23+3×25+5×27+……+2n1×22n+1,④;

③﹣④可得:﹣3Tn2+223+25+……+22n1)﹣(2n1×22n+12n×22n+1,

變形可得:Tn

練習(xí)冊(cè)系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】北京聯(lián)合張家口獲得2022年第24屆冬奧會(huì)舉辦權(quán),我國(guó)各地掀起了發(fā)展冰雪運(yùn)動(dòng)的熱潮,現(xiàn)對(duì)某高中的學(xué)生對(duì)于冰雪運(yùn)動(dòng)是否感興趣進(jìn)行調(diào)查,該高中男生人數(shù)是女生的1.2倍,按照分層抽樣的方法,從中抽取110人,調(diào)查高中生是否對(duì)冰雪運(yùn)動(dòng)感興趣得到如下列聯(lián)表:

感興趣

不感興趣

合計(jì)

男生

40

女生

30

合計(jì)

110

1)補(bǔ)充完成上述列聯(lián)表;

2)是否有99%的把握認(rèn)為是否喜愛冰雪運(yùn)動(dòng)與性別有關(guān).

附: (其中.

0.15

0.10

0.05

0.025

0.010

0.005

2.072

2.706

3.841

5.024

6.635

7.879

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】如圖所示,正方體ABCDABCD′的棱長(zhǎng)為1,EF分別是棱AA′,CC′的中點(diǎn),過直線E,F的平面分別與棱BB′、DD′交于M,N,設(shè)BMxx∈[0,1],給出以下四個(gè)命題:

平面MENF⊥平面BDDB′;

當(dāng)且僅當(dāng)x時(shí),四邊形MENF的面積最;

四邊形MENF周長(zhǎng)Lfx),x∈[0,1]是單調(diào)函數(shù);

四棱錐C′﹣MENF的體積Vhx)為常函數(shù);

以上命題中假命題的序號(hào)為(  )

A. ①④B. C. D. ③④

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】某學(xué)習(xí)小組在生物研究性學(xué)習(xí)中,對(duì)春季晝夜溫差大小與黃豆種子發(fā)芽多少之間的關(guān)系進(jìn)行研究,于是小組成員在3月份的31天中隨機(jī)挑選了5天進(jìn)行研究,且分別記錄了每天晝夜溫差與每天每100顆種子浸泡后的發(fā)芽數(shù),得到如下資料:

日期

32

38

315

322

328

溫差/

10

11

13

12

8

發(fā)芽數(shù)/

23

25

30

26

14

1)在這個(gè)學(xué)習(xí)小組中負(fù)責(zé)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的那位同學(xué)為了減少計(jì)算量,他從這5天中去掉了32日與328日的兩組數(shù)據(jù),請(qǐng)根據(jù)這5天中的另三天的數(shù)據(jù),求出關(guān)于的線性回歸方程;

2)若由線性回歸方程得到的估計(jì)數(shù)據(jù)與所去掉的試驗(yàn)數(shù)據(jù)的誤差均不超過2顆,則認(rèn)為得到的線性回歸方程是可靠的,試問(1)中所得的線性回歸方程是否可靠?

(參考公式:,)(參考數(shù)據(jù):,

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】某調(diào)查機(jī)構(gòu)對(duì)全國(guó)互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)進(jìn)行調(diào)查統(tǒng)計(jì),得到整個(gè)互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)從業(yè)者年齡分布餅狀圖和90后從事互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)者崗位分布圖(90后指1990年及以后出生,80后指1980-1989年之間出生,80前指1979年及以前出生),則下列結(jié)論中不一定正確的是(

整個(gè)互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)從業(yè)者年齡分布餅狀圖 90后從事互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)者崗位分布圖

A.互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)從業(yè)人員中90后占一半以上

B.互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)中從事技術(shù)崗位的人數(shù)90后比80后多

C.互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)中從事設(shè)計(jì)崗位的人數(shù)90后比80前多

D.互聯(lián)網(wǎng)行業(yè)中從事市場(chǎng)崗位的90后人數(shù)不足總?cè)藬?shù)的10%

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】如圖,已知點(diǎn)F為拋物線C)的焦點(diǎn),過點(diǎn)F的動(dòng)直線l與拋物線C交于MN兩點(diǎn),且當(dāng)直線l的傾斜角為45°時(shí),.

1)求拋物線C的方程.

2)試確定在x軸上是否存在點(diǎn)P,使得直線PM,PN關(guān)于x軸對(duì)稱?若存在,求出點(diǎn)P的坐標(biāo);若不存在,請(qǐng)說明理由.

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】對(duì)于具有相同定義域D的函數(shù),若存在函數(shù)(k,b為常數(shù)),對(duì)任給的正數(shù)m,存在相應(yīng)的,使得當(dāng)時(shí),總有,則稱直線為曲線分漸近線.給出定義域均為的四組函數(shù)如下:

,

,;

,;

,

其中,曲線存在分漸近線的是________

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】選修4-4:坐標(biāo)系與參數(shù)方程

在直角坐標(biāo)系中,曲線 經(jīng)過伸縮變換后得到曲線.以坐標(biāo)原點(diǎn)為極點(diǎn), 軸的正半軸為極軸建立極坐標(biāo)系,曲線的極坐標(biāo)方程為.

(Ⅰ)求出曲線、的參數(shù)方程;

(Ⅱ)若、分別是曲線、上的動(dòng)點(diǎn),求的最大值.

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

【題目】某芯片公司對(duì)今年新開發(fā)的一批5G手機(jī)芯片進(jìn)行測(cè)評(píng),該公司隨機(jī)調(diào)查了100顆芯片,并將所得統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分為五個(gè)小組(所調(diào)查的芯片得分均在內(nèi)),得到如圖所示的頻率分布直方圖,其中

1)求這100顆芯片評(píng)測(cè)分?jǐn)?shù)的平均數(shù)(同一組中的每個(gè)數(shù)據(jù)可用該組區(qū)間的中點(diǎn)值代替).

2)芯片公司另選100顆芯片交付給某手機(jī)公司進(jìn)行測(cè)試,該手機(jī)公司將每顆芯片分別裝在3個(gè)工程手機(jī)中進(jìn)行初測(cè)。若3個(gè)工程手機(jī)的評(píng)分都達(dá)到11萬分,則認(rèn)定該芯片合格;若3個(gè)工程手機(jī)中只要有2個(gè)評(píng)分沒達(dá)到11萬分,則認(rèn)定該芯片不合格;若3個(gè)工程手機(jī)中僅1個(gè)評(píng)分沒有達(dá)到11萬分,則將該芯片再分別置于另外2個(gè)工程手機(jī)中進(jìn)行二測(cè),二測(cè)時(shí),2個(gè)工程手機(jī)的評(píng)分都達(dá)到11萬分,則認(rèn)定該芯片合格;2個(gè)工程手機(jī)中只要有1個(gè)評(píng)分沒達(dá)到11萬分,手機(jī)公司將認(rèn)定該芯片不合格.已知每顆芯片在各次置于工程手機(jī)中的得分相互獨(dú)立,并且芯片公司對(duì)芯片的評(píng)分方法及標(biāo)準(zhǔn)與手機(jī)公司對(duì)芯片的評(píng)分方法及標(biāo)準(zhǔn)都一致(以頻率作為概率).每顆芯片置于一個(gè)工程手機(jī)中的測(cè)試費(fèi)用均為300元,每顆芯片若被認(rèn)定為合格或不合格,將不再進(jìn)行后續(xù)測(cè)試,現(xiàn)手機(jī)公司測(cè)試部門預(yù)算的測(cè)試經(jīng)費(fèi)為10萬元,試問預(yù)算經(jīng)費(fèi)是否足夠測(cè)試完這100顆芯片?請(qǐng)說明理由.

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