【題目】在氣象臺(tái)A正西方向處有一臺(tái)風(fēng)中心,它正向東北方向移動(dòng),移動(dòng)速度的大小為,距臺(tái)風(fēng)中心以內(nèi)的地區(qū)都將受到影響.若臺(tái)風(fēng)中心的這種移動(dòng)趨勢不變,氣象臺(tái)所在地是否會(huì)受到臺(tái)風(fēng)的影響?如果會(huì),大約多長時(shí)間后受到影響?持續(xù)時(shí)間有多長(精確到)?
【答案】大約2小時(shí)后,氣象臺(tái)所在地會(huì)受到臺(tái)風(fēng)影響,持續(xù)時(shí)間約為6小時(shí)36分鐘.
【解析】
先作圖,根據(jù)圖像算出氣象臺(tái)所在地距離臺(tái)風(fēng)中心的距離即可判斷是否會(huì)受到臺(tái)風(fēng)的影響;另外利用余弦定理,算出會(huì)受到臺(tái)風(fēng)影響的臨界點(diǎn),進(jìn)而可得受到影響的時(shí)間.
解:如圖
設(shè)臺(tái)風(fēng)中心為B,BD為臺(tái)風(fēng)經(jīng)過的路徑所在的直線,則,
過A作于C,則,
,
∴氣象臺(tái)所在地會(huì)受到臺(tái)風(fēng)的影響,
設(shè)以A為圓心,以為半徑的圓與直線BD交于E,F兩點(diǎn),
設(shè),
由余弦定理得是方程的根,
方程整理得,
解得,
,
∴大約2小時(shí)后,氣象臺(tái)所在地會(huì)受到臺(tái)風(fēng)影響,持續(xù)時(shí)間約為6小時(shí)36分鐘.
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
【題目】設(shè)函數(shù).
(1)若為定義域上的單調(diào)函數(shù),求實(shí)數(shù)的取值范圍;
(2)若,當(dāng)時(shí),證明:.
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【題目】已知函數(shù).
(1)求函數(shù)的最大值和最小值,并求取得最大值和最小值時(shí)對(duì)應(yīng)的的值;
(2)設(shè)方程在區(qū)間內(nèi)有兩個(gè)相異的實(shí)數(shù)根,求的值.
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【題目】已知函數(shù),.
(Ⅰ)當(dāng)時(shí),證明:;
(Ⅱ)的圖象與的圖象是否存在公切線(公切線:同時(shí)與兩條曲線相切的直線)?如果存在,有幾條公切線,請(qǐng)證明你的結(jié)論.
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【題目】長沙某公司生產(chǎn)一種高科技晶片100片,生產(chǎn)過程中由于受到一些不可抗因素的影響,晶片會(huì)受到一定程度的磨損,因此在生產(chǎn)結(jié)束之后需要由測試人員進(jìn)行相應(yīng)的指標(biāo)測試.指標(biāo)測試情況統(tǒng)計(jì)如表所示:
若,則稱該晶片為合格品,否則該晶片為劣質(zhì)品.
(1)試求本次生產(chǎn)過程中該公司生產(chǎn)出合格品的頻率以及數(shù)量;
(2)求這批晶片測試指標(biāo)的平均值;
(3)現(xiàn)按照分層抽樣的方法在測試指標(biāo)在與之間的晶片中抽取6個(gè)晶片,再從這6個(gè)晶片中任取2個(gè)晶片進(jìn)入深入分析,求恰有1個(gè)晶片的測試指標(biāo)在之間的概率.
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
【題目】已知函數(shù)f(x)=||,實(shí)數(shù)m,n滿足0<m<n,且f(m)=f(n),若f(x)在[m2,n]上的最大值為2,則=________.
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
【題目】某學(xué)校為了豐富學(xué)生的課余生活,以班級(jí)為單位組織學(xué)生開展古詩詞背誦比賽,隨機(jī)抽取一首,背誦正確加10分,背誦錯(cuò)誤減10分,且背誦結(jié)果只有“正確”和“錯(cuò)誤”兩種.其中某班級(jí)學(xué)生背誦正確的概率,記該班級(jí)完成首背誦后的總得分為.
(1)求且的概率;
(2)記,求的分布列及數(shù)學(xué)期望.
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
【題目】已知函數(shù).
(1)當(dāng)時(shí),恒成立,求實(shí)數(shù)的取值范圍;
(2)證明:當(dāng)時(shí),函數(shù)有最小值,設(shè)最小值為,求函數(shù)的值域.
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:
【題目】已知函數(shù).
(Ⅰ)討論函數(shù)的單調(diào)性;
(Ⅱ)設(shè),若對(duì)任意的,恒成立,求的取值范圍.
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