Question

15．下列實(shí)驗(yàn)均涉及到多次測量，其中多次測量數(shù)據(jù)取平均值以減小誤差的是（　�。�

• A． 探究串聯(lián)電路的電流規(guī)律時(shí)，要換用不同規(guī)格的燈泡進(jìn)行多次測量
• B． 探究光的反射規(guī)律實(shí)驗(yàn)時(shí)，多次改變?nèi)肷浣堑拇笮?/td>
• C． 用刻度尺測量物理課本的長度時(shí)，進(jìn)行多次測量
• D． 探究重力與質(zhì)量的關(guān)系時(shí)，多次改變物體的質(zhì)量

Answer 1

分析 在物理實(shí)驗(yàn)過程中，多次測量的目的有兩個(gè)：將測量數(shù)據(jù)取平均值，減小誤差；總結(jié)規(guī)律，避免結(jié)論的片面性．

解答 解：
A、探究串聯(lián)電路的電流規(guī)律時(shí)，要換用不同規(guī)格的燈泡進(jìn)行多次測量，其目的是總結(jié)規(guī)律，防止結(jié)論的偶然性．不符合題意；
B、探究光的反射規(guī)律實(shí)驗(yàn)時(shí)，多次改變?nèi)肷浣堑拇笮。�其目的是總結(jié)規(guī)律，防止結(jié)論的偶然性．不符合題意；
C、用刻度尺測量物理課本的長度時(shí)，進(jìn)行多次測量，其目的是：取平均值，減小測量誤差．符合題意；
D、探究重力與質(zhì)量的關(guān)系時(shí)，多次改變物體的質(zhì)量，其目的是總結(jié)規(guī)律，防止結(jié)論的偶然性．不符合題意．
故選C．

點(diǎn)評 一般地，測量性實(shí)驗(yàn)多次測量的目的是減小誤差；探究性實(shí)驗(yàn)多次測量的目的是總結(jié)規(guī)律，避免結(jié)論的偶然性．